菲希爾鍍銀層測厚儀產品信息

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創造良好的激勵條件。







菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL210/XDL220/XDL230/XDL240

菲希爾X熒光射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDVSDD是Fischer產品組合中性能較好的X射線熒光儀器之?。這臺XRF光譜儀配備了?分辨率和強?的硅漂移探測器 (SDD) ，其 涂層--例如，引線框架上約 2nm 厚的?鍍層。