FISCHERSCOPE X-RAY XAN215測厚儀

德國FISCHER X-RAY XAN 215入門級X射線熒光材料分析產(chǎn)品簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測厚儀是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無損分析。

它特別適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯(17)到鈾(92)，多時可同時測定24種元素。

正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，本款儀器有著初設(shè)的準(zhǔn)確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。

先進(jìn)的Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

德國FISCHER X-RAY XAN215入門級X射線熒光材料分析產(chǎn)品應(yīng)用：

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

1. 珠寶、貴金屬和牙科用合金分析

2. 黃金制品和K金制品分析

3. 鉑金制品和銀制品分析

4. 銠制品分析

5. 其他合金分析和鍍層厚度測量

6. 多鍍層厚度測量